透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角与试样密度和厚度有关，故可形成明暗不等的图像，图像经放大和聚焦后显示于成像器件（例如荧光屏、胶片和感光耦合组件等）的显微镜。背景...
此外,还有一些其他技术和方法可以增强或突出原子序数衬度,例如使用能量过滤TEM(EFTEM)或Z 衬度成像等。 电衬度:由于样品的电学性质差异导致的衬度,例如导电性不同的区域。在透射电镜(TEM)中,电衬度可以通过电子能量损失谱(EELS)检测,EELS 可以测量电子在穿过样品时的能量损失。...
赛默飞积极响应大规模设备更新,我们的TEM透射电子显微镜结合了TEM透射电镜和SEM扫描电镜的优势可对大样品面积进行高分辨率原子级分析非常适用于材料研究。我们的服务团队专业、高效为您提供全方位的技术支持。欢迎联系我们了解更多信息。
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透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为...
01透射电镜(TEM)是什么? 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)于1932年左右发明,是一种以波长极短的电子束作为电子光源,利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品,收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。 图1 TEM工作示意图 02透射电镜(TEM)...
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等…
01透射电镜(TEM)是什么? 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)于1932年左右发明,是一种以波长极短的电子束作为电子光源,利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品,收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。
TEM 的分辨率 点分辨率:表示TEM能分辨的两个相邻点之间的最小距离。 晶格分辨率:用于衡量TEM对晶格结构的分辨能力。 信息分辨率:反映TEM能够提供的关于样品结构和成分的详细信息程度。 我们通常说的分辨率一般指点分辨率,点分辨率是TEM性能的重要指标之一,它决定了 TEM 能够分辨样品中微小细节的能力。