【“闩锁”现象及其预防措施】“闩锁”现象及其预防措施“闩锁”被定义为:由于寄生pnp和npn双极型晶体管的相互作用导致在CMOS芯片内电源线与地线路径之间形成低阻抗。这些BJT管形成一个带正反馈的硅控整流器(SCK),使电源到地形成事实上的短路,从而引起一个很大的电流流动,甚至造成器件的永久性损害。图所示为具有寄生...
一 , 劬 C M o S电 路测试中的闩锁现 航天工业总公 司七 七一所 部金仙 摘要 象的 成 目厦 其 触发 机理。针对实 际测 试情况 , 分析 了刹 试过 程中导 致被 测 器件 闩镰 的原因。最后提出了相应的措施 , 从外部防止和克服 CM OS 电路 闩锁 的形 成。 文章叙 述了 CMOS 电路 寄生 可控...
克服CMOS电路测试中的闩锁现象/—,1/克月艮文.一,劬CMoS电路测试中的闩锁现航天工业总公司七七一所部金仙摘要文章叙述了CMOS电路寄生可控硅现象的成目厦其触发机理.针对实际测试情况,分析了刹试过程中导致被测器件闩镰的原因.最后提出了相应的措施,从外部防止和克服CMOS电路闩锁的形成.1引言在CMoS电路的成品测试和芯...
请问一下,什么是闩锁现象??如题! 2楼: >>参与讨论 作者: computer00 于2005/12/10 18:46:00 发布: 看看集成电路设计方面的资料吧由于集成电路的结构,会产生一种可控硅的结构。当由于某种原因,使这个可控硅触发导通,就会形成很大的电流(从电源到地),轻则电路工作异常,重则烧毁IC。
摘要 一种独立于电源模块的芯片级闩锁现象过流保护电路,涉及集成电路领域。本发明包括一个大电流开关模块、一个等比例电流检测模块、一个判决模块和一个自启动模块。电源PAD经大电流开关模块连接到芯片电源管理模块到核心电路,电源PAD另依次经等比例电流检测模块、判决模块和自启动模块连接到大电流开关模块,芯片电源管理...
维持电压低易闩锁是高性能可控硅SCR(Silicon Controlled Rectifier)结构静电防护器件设计时需要克服的缺点。为了避免SCR静电防护器件在CMOS集成电路芯片正常工作状态下被 2024-06-22 00:54:40 如何防止电路中的闩锁问题 闩锁效应是CMOS工艺所特有的寄生效应,严重会导致电路的失效,甚至烧毁芯片。闩锁效应是由NMOS的有源...
IGBT闩锁现象的解析模拟 来自 掌桥科研 喜欢 0 阅读量: 241 作者: 孙向阳,高玉民 摘要: 本文从IGBT发生闩锁的机理出发,推导出IGBT结构中两个寄生双极晶体管的共基极电流放大系数 及NPN管基区横向电阻随电流密度变化的解析模型,并据此对条形和矩形元胞结构的IGBT器件编制了闩锁电流分析计算程序,取得了与国外报道...
本文以某整机在调试过程中发生的一只CMOS驱动门电路的闩锁失效为例,具体分析了测试仪器感应漏电引起CMOS电路闩锁的现象,机理和原因,具有一定的典型性. 马璇 被引量: 0发表: 2001年 CMOS集成电路的抗辐射分析及设计 本文利用标准的商业CMOS工艺,设计了一个1万门的抗辐射加固的CMOS门阵列,用以评估商业工艺线制造的电路...
新型开关确保高压 应用无闩锁现象