一、角分辨光电子能谱基本原理 二、角分辨光电子能谱技术 1.光源系统 2.能量分析器 3.超高真空系统 4.低温样品台系统和传样系统 角分辨光电子能谱(ARPES)实验基于光电效应,可以直观地获得材料全动量空间中超高分辨的电子结构的全部信息。 角分辨光电子能谱系统-中国科学院物理所 光电发射现象是1887年德国物理学...
常见的ARPES测量过程如下：一个单晶样品被能量为hν的单色光照射，导致电子在所有可能的方向上进行光发射。这些电子的一小部分由光电发射光谱仪收集，该光谱仪记录每个检测到的电子的动能和发射角(ϑ, φ)。这里ϑ是相对于表面法线的极角，而ϕ是通常相对于实验几何或晶轴定义的方位角。基于能量和动量守恒，可以...
首先是时间分辨ARPES，它可以在受到强短脉冲光激发后测量电子结构的时间演化。虽然会有能量分辨率的限制，...
详细描述:ARM系列显微角分辨系统可以应用于检测表面具有微结构的样品:1.ARM显微角分辨系统采用奥林巴斯显微镜,可以实现大于60°的光谱检测;2.采用人工智能算法,支持透射、上/下反射、荧光、散射、辐射、自定义、编程等9中检测状态和原始、扣背景、反射、透射、吸收、吸光度、辐射等7中测量模式;3.支持370-1700nm的光谱...
角分辨光电子能谱，简称ARPES，它可以利用光电效应研究固体的电子结构，能直观地获得材料全动量空间中超高分辨的电子结构的全部信息。1887年德国物理学家赫兹发现了光电发射现象，一束光照射在样品表面，当入射光频率高于特定阈值时，表面附近的电子会脱离样品，成为自由电子。从1899年到1902年，赫兹的实验助手对这一现象...
角分辨光电子能谱是研究材料电子结构最直接的实验手段。长期以来,由于高质量三层铜氧化物超导体单晶合成困难,相关的角分辨光电子能谱研究难以广泛开展,高分辨角分辨光电子能谱研究更是稀少。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心超导国家重点实验室周兴江研究组博士生罗翔宇、陈浩和李颖昊,与马克斯·普朗克研...
赛默飞积极响应大规模设备更新,我们的角分辨XPS提供超薄膜的厚度和组分信息是一种非破坏性的XPS分析技术。与传统的溅射深度剖析不同我们的光电子能谱仪能更精准地分析材料的表面和内部结构。欢迎咨询我们的产品和服务赛默飞期待与您的合作。
微光谱系统角分辨 微光谱系统的角分辨率是指在进行光谱测量时,能够分辨出不同角度下光的强度、偏振态和相位等信息的能力。这种技术对于研究光与物质相互作用、材料科学、生物医学以及微纳光子学等领域具有重要意义。角分辨光谱技术通过对光谱在角度维度的进一步解析,使得科学家能够在不同的角度下获取关于材料或样品的...
角分辨及微区显微光谱仪是一种用于物理学领域的物理性能测试仪器，于2018年10月19日启用。技术指标 1.角分辨光谱仪 探测范围：360-1100nm 光谱分辨率：1.98nm 角分辨范围：-60~60° 角分辨率：4° 2.微区显微荧光测量 光纤：360-2500nm 探头：200-1100nm 3.近红外光谱仪NIR1700 探测范围：900-1700nm。主...