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ppt课件.1 提纲 ＸＲＲ介绍仪器硬件选择和测量配置ＸＲＲ数据解析 ppt课件.2 什么是薄膜的反射率测量(XRR)?反射率测量（XRR）是利用X射线在物质中发生的折射和反射（表面，界面），以及反射线之间的互相干涉对薄膜的性质（密度，厚度，粗糙度）进行研究的一种方法 对材料表面非常敏感的技术 无损纳米尺度检测 晶体...
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Bruker AXSesApplied Surface ScienceNovel methods and universal software for HRXRD, XRR and GISAXS data interpretation[J] . A. Ulyanenkov.Applied Surface Science . 2006 (1)A. Ulyanenkov.Novel methods and universal software for HRXRD, XRR and GISAXS data interpretation. Applied Surface Science . ...
入射光路的光学器件选择-只有G;Slide 29;Slide 30;探测器端的分辨率选择Pathf;功能超级强大的探测器光路;不同硬件配置的仪器分辨率和最大;样品尺寸效应;Slide 35;Slide 36;Slide 37;Slide 38;LEPTOS 仪器分辨率计算和;拟合计算过程;Amorphous HfO2 ;XRR on MEMS – R;GMR Heterostruc;www.bruker-axs.;Slide ...